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丹東百特
納米粒度及Zeta電位分析儀
BeNano Zeta 電位分析儀

產品簡介
BeNano Zeta 電位分析儀是丹東百特儀器公司開發的測量顆粒體系 Zeta 電位的光學檢測系統。BeNano Zeta 系統基于電泳光散射原理,樣品分散在樣品池中,在樣品池兩端施加一個電場,通過激光照射到電場中的樣品上,光電檢測器在 12°角檢測樣品顆粒電泳運動造成的散射光的多普勒頻移,進而得到體系的 Zeta 電位信息。
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產品介紹:
BeNano Zeta 電位分析儀是丹東百特儀器公司開發的測量顆粒體系 Zeta 電位的光學檢測系統。BeNano Zeta 系統基于電泳光散射原理,樣品分散在樣品池中,在樣品池兩端施加一個電場,通過激光照射到電場中的樣品上,光電檢測器在 12°角檢測樣品顆粒電泳運動造成的散射光的多普勒頻移,進而得到體系的 Zeta 電位信息。
BeNano Zeta 電位分析儀基本性能指標
1、Zate電位測試
| Zeta范圍 | 無實際限制 |
| 原理 | 相位分析光散射PALS |
| 電泳遷移率范圍 | > ±20 μ.cm/V.s |
| 電導率范圍 | 0 - ≥270 mS/cm * |
| Zeta測試粒徑范圍 | 1 nm – >120 μm * |
2、趨勢測試
| 溫度趨勢 | Zeta電位隨溫度變化趨勢 |
| 時間趨勢 | Zeta電位隨時間的變化趨勢 |
| pH值趨勢 | Zeta電位隨pH值的變化趨勢 * |
3、系統參數
| 溫控范圍 | -15°C - 120°C |
| 冷凝控制 | 干燥空氣或者氮氣 |
| 激光器 | 高性能固體激光器,波長671nm(不同波長激光器可選) |
| 相關器 | 快、中、慢多模式,最快25 ns采樣,最多 4000通道,1011動態線性范圍 |
| 檢測器 | APD |
| 光強控制 | 0.0001% -100%,自動或手動控制 |
| * 依賴于樣品和選件 | |