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產品中心丹東百特納米粒度及Zeta電位分析儀BeNano180ZetaMax納米粒度及Zeta電位分析儀
產品簡介
BeNano180ZetaMax納米粒度及Zeta電位分析儀是丹東百特儀器有限公司，新推出的表征納米體系特性的光學檢測系統。該系統中集成了動態光散射DLS、電泳光散射ELS、靜態光散射SLS以及透射光檢測技術，可以準確地檢測顆粒的粒徑及粒徑分布、Zeta電位、高分子和蛋白體系的分子量、液體的折射率以及顆粒物濃度等參數，可廣泛應用于化學、化工、生物、制藥、食品、材料等領域的基礎研究、質量分析和質
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BeNano180ZetaMax納米粒度及Zeta電位分析儀是丹東百特儀器有限公司，新推出的表征納米體系特性的光學檢測系統。該系統中集成了動態光散射DLS、電泳光散射ELS、靜態光散射SLS以及透射光檢測技術，可以準確地檢測顆粒的粒徑及粒徑分布、Zeta電位、高分子和蛋白體系的分子量、液體的折射率以及顆粒物濃度等參數，可廣泛應用于化學、化工、生物、制藥、食品、材料等領域的基礎研究、質量分析和質量控制。
BeNano180ZetaMax納米粒度及Zeta電位分析儀基本性能指標
1、粒徑檢測(動態光散射法)
| 粒徑范圍 | 0.3 nm - 15 μm* |
| 樣品量 | 最小3μL，常規1ml（可訂制其它容量）* |
| 檢測角度 | 173°+90°+11.2°（可對應高濃度粒度和低濃度粒度） |
| 樣品濃度 | ≤40%（W/V）* |
| 粒徑算法 | Cumulants、通用模式、CONTIN、NNLS |
2、Zate電位測試
| Zeta范圍 | 無實際限制 |
| 原理 | 相位分析光散射PALS |
| 電泳遷移率范圍 | > ±20 μ.cm/V.s |
| 電導率范圍 | 0 - ≥270 mS/cm * |
| Zeta測試粒徑范圍 | 1 nm – >120 μm * |
3、沉降法粒度測試
| 粒徑范圍 | 1 μm - 50 μm * |
| 檢測角度 | 0°（PD檢測器） |
| 樣品量 | 1 – 3 ml |
4、分子量測試
| 分子量范圍 | 342 Da – 2 x 107 Da * |
5、微流變測試
| 測試能力 | 均方位移、復數模量、彈性模量、粘性模量、蠕變柔量、復數粘度 |
6、趨勢測試
| 溫度趨勢 | 粒度與Zeta電位隨溫度變化趨勢，自動檢測溫度轉變點Tm |
| 時間趨勢 | 粒度與Zeta電位隨時間的變化趨勢 |
| pH值趨勢 | 粒度與Zeta電位隨pH值的變化趨勢 * |
7、濃度檢測
| 檢測方法 | LEDLS |
| 測試能力 | 體積分數和數量濃度 |
8、折射率測試
| 折射率范圍與精度 | 1.2 - 1.6，液體，精度優于0.1% |
| 檢測方法 | 楔形池樣品折射法（無需示蹤粒子） |
| 檢測角度 | 0°（CMOS檢測器） |
| 樣品量 | 380 μL – 1 ml |
9、系統參數
| 溫控范圍 | -15°C - 120°C |
| 冷凝控制 | 干燥空氣或者氮氣 |
| 激光器 | 高性能固體激光器，波長671nm（不同波長激光器可選） |
| 相關器 | 快、中、慢多模式，最快25 ns采樣，最多 4000通道，1011動態線性范圍 |
| 檢測器 | APD+PD+CMOS |
| 光強控制 | 0.0001% -100%，自動或手動控制 |
| * 依賴于樣品和選件 | |
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